檢驗科醫用顯微鏡如何減少環境因素對成像效果的影響

檢驗科醫用顯微鏡的成像效果易受環境因素干擾，以下從環境控制標準、防干擾技術方案及具體措施三個方面，為您詳細介紹如何減少這些影響。

環境控制標準

溫濕度：當檢驗檢測工作對環境溫度和濕度無特殊要求時，工作環境的溫度宜維持在16℃~26℃，相對濕度宜維持在30%~65%；若檢驗檢測工作對環境溫度和濕度有特殊要求，則需符合相關國家標準或行業標準。

地面振動：10Hz頻率下振幅應在2μm（峰 - 峰）以下，手放在平臺上不應感受到振動。

其他環境條件：實驗室的噪音、防潮、防塵、防腐蝕、防磁與屏蔽等方面的環境條件應符合在室內開展的檢定項目之檢定規程和計量標準器具及計量檢測儀器設備對環境的要求，室內采光應利于檢定工作和計量檢測工作的進行。

防干擾技術方案

光學隔離技術：光學顯微鏡通過照明系統和成像系統的協同工作來實現對小結構樣品的觀察。照明系統使用人造光源，如燈泡、發光二極管（LED）或激光器，經聚光透鏡收集并整形、過濾后聚焦到樣品上；成像系統通過物鏡和目鏡收集與樣品相互作用的光，產生放大圖像。可通過選擇合適的光學過濾器修改照明光的光譜和偏振，突出樣品特征。

電磁屏蔽技術：對于電子顯微鏡等高精密儀器，要考慮磁場干擾。一般電子顯微鏡對周圍磁場的要求是不大于數十到數百納特斯拉（峰 - 峰值）。可采用磁屏蔽，使用導磁材料（如低碳鋼、硅鋼等）提供磁旁路來降低屏蔽體內部的磁通密度，同時盡量增大渦流損耗，使一部分能量轉化為熱能消耗掉；也可采用主動式消磁器，通過探測器檢測磁場的三維場強及其變化，控制器產生連續跟蹤的反相電流，反相消磁線圈產生波形和幅度相同、相位相反的電磁場將原來的電磁干擾抵消。

自動對焦補償技術：自動對焦顯微鏡利用圖像對比度或相位補償技術實時檢測并調整焦距，以獲得清晰的圖像。圖像對比度法通過實時分析樣本圖像中的對比度來確定焦距，使用特定算法計算圖像中不同部分之間的亮度差異，并調整鏡片位置使對比度Z佳；相位補償法利用光學插入物或改變光路引入與樣品相關的相位差，用物理或計算方法評估相位差大小，從而確定焦距，通過與預設的參考相位比較，自動調整焦距直至Z佳焦點。

具體措施

環境監測與記錄：由專業人員負責室內溫、濕度的記錄，有空調和除濕設備的室內不應隨便開啟門窗，指定專人負責操作空調設備或除濕機，室內溫、濕度情況記錄由各計量、實驗室保存，保存期三年。

設備安裝與調試：在安裝顯微鏡前，對場地進行專門檢測，若周圍環境不符合要求，采取適當措施解決或改善。如對于電子顯微鏡，廠商一般會在安裝前對場地進行檢測。

日常維護與管理：實驗室應保持整齊潔凈，每天工作結束后進行必要清理，定期擦拭儀器設備，設備使用完后將器具及其附件擺放整齊，蓋上儀器罩或防塵布，一切用電的儀器設備使用完畢后均應切斷電源。實驗室內嚴禁吸煙、吃零食和存放食物等，非實驗室人員未經允許不得入內，經同意進入的人員在人數上應嚴格控制，以免引起室內溫度、濕度的波動變化。